AI推理卡散热外壳缝隙是否会降低辐射屏蔽效能？

发布日期：2026-01-03 浏览次数：112次

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AI推理卡常采用铝制或镀锌钢散热外壳既是散热通道也是电磁屏蔽体，外壳缝隙是屏蔽效能的最大敌人，当缝隙长度 > λ/20对应 1GHz 为 1.5cm时将产生显著电磁泄漏；AI推理卡高密度散热开孔、接口开窗、上下盖接缝均为典型缝隙，音特电子实测某 AI推理卡外壳未加导电泡棉时 1GHz 辐射骚扰超限值 8dB，接缝处贴装导电泡棉、开孔改为小圆孔阵列后 1GHz 屏蔽效能提升 15dB 通过测试；散热与屏蔽必须协同设计：散热孔采用圆孔阵列孔径 <3mm，接缝处填充镀镍导电泡棉压缩率 30%-50%，接口开窗四周加弹片与机箱连续接地，AI推理卡辐射超标时应优先检查外壳缝隙的导电连续性.

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