
HMI显示花屏与EMC问题密切相关,通常由外部电磁干扰耦合进入显示信号链导致。花屏表现为屏幕出现乱码、条纹、雪花或局部闪烁。
干扰可能通过以下途径耦合:传导路径上,显示驱动芯片的供电电源受到噪声污染,导致逻辑错误或输出电平不稳,可在电源上测试纹波和噪声进行验证。辐射路径上,空间电磁场直接耦合到LVDS/RGB排线或液晶面板内部,干扰了模拟像素电压或数字信号,这种情况在辐射抗扰度测试中容易复现。地环路噪声导致显示接口的共模电压波动,超出接收芯片的共模输入范围。时钟信号受到干扰,引起时序混乱。
排查时,首先检查显示接口线缆的屏蔽与接地,使用带高质量屏蔽的排线并确保两端接地良好。在显示信号的差分线上增加共模扼流圈,例如CMZ2012A-900T,以增强共模抗扰。加强驱动芯片的电源滤波,使用磁珠和低ESL电容。确保显示面板的金属边框与设备机壳良好搭接。
通过示波器观察关键信号波形,结合EMC测试定位干扰类型,并采用音特电子的滤波和屏蔽措施进行整改,通常可以消除花屏现象。