快充充电器中共模电感如何应对高频开关（>1MHz）的干扰抑制？​

磁芯材料：优先选用纳米晶（如 Hitachi Finemet）或铁硅铝（Sendust）磁芯，在 1MHz 以上频段保持高磁导率（μi≥1000）和低损耗（如: 1MHz/200mT 时 Pcv≤500mW/cm³）

绕组设计方法:
双线并绕：采用 0.3mm×2 股漆包线并绕，减少邻近效应导致的电流分布不均，提升高频阻抗

分段绕制：将绕组分为 4 段，每段间插入绝缘层，降低层间寄生电容至 5pF 以下

辅助电路：在电感两端并联 TVS 二极管（如 SMBJ15A），箝位高频开关尖峰（如 1MHz/100V 尖峰），保护后端电路

快充电器延伸知识：

一、 核心分类：发射测试（EMI Emission）

      1. 传导发射测试（Conducted Emission, CE）

      测试目的：检测充电器通过电源线向电网传导的低频电磁干扰（主要是谐波和断续传导干扰）

测试频段：

低频谐波：0Hz–2kHz（针对输入电流的谐波分量）

断续传导干扰：150kHz–30MHz（针对开关电源高频开关产生的干扰）

测试标准：

国标：GB 17625.1（谐波电流限值）、GB 17625.2（断续传导限值）

国际标准：IEC 61000-3-2（谐波）、IEC 61000-3-3（电压波动和闪烁）、CISPR 11/CISPR 32（传导发射限值）

测试要点：

需使用线路阻抗稳定网络（LISN） 隔离电网干扰，采集充电器电源线的干扰信号

快充需覆盖全功率档位测试（如 5V/2A、9V/3A、12V/3A 等），避免特定档位超标

重点关注开关频率附近的干扰峰值（快充开关频率通常在 65kHz–2MHz，易产生窄带干扰）

     2. 辐射发射测试（Radiated Emission, RE）

测试目的：检测充电器工作时通过空间辐射的高频电磁干扰

测试频段：30MHz–6GHz（30MHz 以下以传导为主，30MHz 以上辐射占主导）

测试标准：

国标：GB 17625.1、GB/T 18268

国际标准：CISPR 11/CISPR 32、IEC 61000-6-1

测试要点：

在半电波暗室内进行，使用标准偶极子天线接收辐射信号

充电器需放置在标准测试台上，按水平 / 垂直两种极化方向测试，避免方向导致的漏测

快充的高频整流、PFC 电路、协议通信模块（如 USB PD、QC 协议）是辐射干扰主要来源，需重点监测

需连接模拟负载，模拟不同快充协议下的工作状态

3. 谐波电流与电压波动闪烁测试

测试目的：检测充电器输入电流的谐波分量，以及工作时对电网电压的波动和闪烁影响，避免影响电网供电质量

测试频段 / 范围：

谐波电流：2–40 次谐波

电压波动：电压变化范围与持续时间

电压闪烁：短时 / 长时闪烁值（Pst、Plt）

测试标准：

国标：GB 17625.1（谐波）、GB 17625.2（闪烁）

国际标准：IEC 61000-3-2（谐波）、IEC 61000-3-3（闪烁）

测试要点：

快充充电器的功率因数校正（PFC）电路性能直接影响谐波指标，无 PFC 或 PFC 设计不佳的产品易超标

需在额定输入电压范围内测试（如 100–240V AC），覆盖不同电网电压工况

二、 补充测试：传导抗扰度测试（EMS Immunity）

该类测试验证快充充电器抵抗外界电磁干扰的能力，确保在复杂电磁环境下稳定工作，属于 EMC 测试的重要组成部分

• 静电放电抗扰度（ESD）
•  测试目的：模拟人体静电对充电器外壳、接口的干扰
  • 测试点：充电器外壳金属件、USB 接口引脚、电源插头
  • 标准：IEC 61000-4-2，常见等级：接触放电 ±8kV、空气放电 ±15kV
   
• 电快速瞬变脉冲群抗扰度（EFT/B）
  • 测试目的：模拟电网或控制线的瞬态脉冲干扰（如继电器通断）
  • 测试点：电源线、USB 数据线
  • 标准：IEC 61000-4-4，常见等级：电源线 ±2kV、数据线 ±1kV
   
• 浪涌抗扰度（Surge）
  • 测试目的：模拟电网雷击、开关过电压等浪涌干扰
  • 测试点：电源输入线、USB 接口线。
  • 标准：IEC 61000-4-5，常见等级：线对地 ±2kV、线对线 ±1kV
   
• 射频传导抗扰度
  • 测试目的：模拟电网中射频干扰对充电器的影响
  • 测试频段：150kHz–80MHz
  • 标准：IEC 61000-4-6

三、 快充充电器特殊考量点

协议相关干扰：USB PD、QC、SCP 等快充协议的高频通信信号（如 27MHz 载波）可能成为干扰源，测试时需开启协议通信状态

宽电压 / 电流范围：快充需在全输出电压电流组合下测试，部分档位可能因负载变化导致干扰超标

散热与干扰关联：高功率快充（如 120W 以上）散热风扇（若有）会引入额外电磁干扰，需单独测试风扇工作状态下的 EMI

滤波电路验证：测试时需确认共模电感、X 电容、Y 电容等 EMI 滤波器件的效果，若超标需优化滤波参数

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