金属外壳的共模电感接地方式直接决定屏蔽效果,具体影响如单点可靠接地(外壳通过低阻抗路径连接到系统安全地):可将外壳上感应的共模干扰电荷快速导入地,避免外壳成为 “辐射天线”,屏蔽效果最佳(通常可降低辐射干扰 20-40dB)多点接地:易形成地环路,导致不同接地点的电位差通过外壳传导干扰,反而削弱屏蔽效果不接地:外壳会积累感应电荷,形成静电场或交变电磁场,增强对外界的辐射干扰,屏蔽失效建议采用 “360° 全包围接地”(外壳与 PCB 接地平面通过多个过孔连接),确保高频下接地阻抗最低