金属外壳的共模电感接地方式直接决定屏蔽效果,具体影响,如:单点可靠接地(外壳通过低阻抗路径连接到系统安全地):可将外壳上感应的共模干扰电荷快速导入地,避免外壳成为 “辐射天线”,屏蔽效果最佳(通常可降低辐射干扰 20-40dB)多点接地:易形成地环路,导致不同接地点的电位差通过外壳传导干扰,反而削弱屏蔽效果不接地:外壳会积累感应