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AI推理卡 RS 测试时推理精度是否出现下降?

发布日期:2026-01-13 浏览次数:297次
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RS 测试中强射频场通过线缆、缝隙耦合至 PCB,在 PCB 走线上感应出共模电压叠加至核心供电或参考电压,导致模拟数字转换非线性、锁相环抖动增加,最终表现为推理精度下降;音特电子与第三方实验室联合测试:未加防护 AI推理卡在 800MHz 10V/m 场强下运行 YOLOv5 目标检测 mAP 从 0.752 降至 0.683 下降 9.2%;整改措施:在核心供电输出端并联 100pF 高频电容与 ESD3V3D3B TVS,时钟产生电路增加局部屏蔽罩,所有 I/O 接口加装 CMZ2012A-900T 共模电感;整改后 10V/m 场强下 mAP 保持 0.749 波动 <0.5%,AI推理卡 RS 防护必须将推理精度稳定性纳入性能判据而不仅是功能不丧失.

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